DMM6500 6? 位圖形觸摸屏數(shù)字萬用表

泰克/吉時(shí)利 DMM6500 觸摸屏工作臺(tái)/生產(chǎn)測(cè)試數(shù)字萬用表具有更多測(cè)量能力（包括瞬態(tài)捕捉、數(shù)據(jù)可視化和分析），而價(jià)格僅與其他性能低得多的 6? 位數(shù)字?jǐn)?shù)字萬用表相當(dāng)。

DMM6500 6? 位圖形觸摸屏數(shù)字萬用表更廣泛的測(cè)量
獲取 15 項(xiàng)內(nèi)置測(cè)量功能，包括數(shù)字化、電容和溫度。 在低功耗設(shè)備上進(jìn)行低電流和低電阻測(cè)量。 使用內(nèi)置的數(shù)字化器捕捉瞬態(tài)信號(hào)。 同時(shí)查看兩個(gè)測(cè)量值以*大化測(cè)試數(shù)據(jù)。 DMM6500 使得無需使用其他儀器。

可視化數(shù)據(jù)并通過觸摸屏輕松發(fā)現(xiàn)測(cè)量趨勢(shì)
即時(shí)獲得對(duì)測(cè)量的洞察，例如捕獲瞬態(tài)信號(hào)并在觸摸屏上查看數(shù)據(jù)趨勢(shì)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，以便更快速地分析數(shù)據(jù)并使得無需進(jìn)行額外測(cè)量。
特點(diǎn)
顯示波形圖，其中包括波形相互之間的疊加。
手指開合縮放功能支持對(duì)瞬態(tài)和信號(hào)波形進(jìn)行研究。
使用光標(biāo)和計(jì)算機(jī)統(tǒng)計(jì)信息來檢定波形。

擴(kuò)展到十個(gè)測(cè)量通道
如果您需要同時(shí)查看更多設(shè)備或在設(shè)備上進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量，可以選擇一個(gè)選配的掃描卡，它可以為您提供多達(dá) 10 個(gè)測(cè)量通道而無需購買更多儀器。

更高的生產(chǎn)測(cè)試吞吐量和更低的測(cè)試成本-特點(diǎn)
對(duì) 60 Hz (50 Hz) 的電源線進(jìn)行短至 0.0005 個(gè)電源線周期或 8.3μs (10 μs) 的測(cè)量。
使用儀器上的智能命令和控制處理方法來減少 PC 通信，從而縮短測(cè)試時(shí)間。

標(biāo)準(zhǔn) LAN LXI 和 USB 以及可選的 GPIB、RS-232 和 TSP-Link® 接口
在升級(jí)時(shí)無需編寫新代碼
獲得廣受歡迎的 Keithley 數(shù)字萬用表和競爭對(duì)手?jǐn)?shù)字萬用表的代碼仿真，讓您快速簡單地轉(zhuǎn)換代碼和更快地升級(jí)。

DMM6500 6? 位圖形觸摸屏數(shù)字萬用表捕獲和分析復(fù)雜波形和瞬態(tài)信號(hào)
DMM6500 不僅僅是在顯示屏上提供讀數(shù)。 它還可以繪制用數(shù)字化器捕獲的波形。 通過觸摸屏，可以使用手指開合縮放功能擴(kuò)展波形的各個(gè)部分。 此外，光標(biāo)和統(tǒng)計(jì)信息提供了關(guān)于信號(hào)特征的更多細(xì)節(jié)。 捕獲波形和瞬態(tài)：
1 M 采樣/秒，16 位數(shù)字化器。
對(duì)信號(hào)進(jìn)行手指開合縮放操作。
統(tǒng)計(jì)信息，例如由水平和垂直光標(biāo)定義的信號(hào)段的平均值、*大值、*小值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。

通過在單個(gè)測(cè)試設(shè)置下測(cè)量多達(dá) 10 個(gè)設(shè)備來擴(kuò)展測(cè)試容量
將選配的多路復(fù)用器卡添加到 DMM6500，在單個(gè)設(shè)備上測(cè)量多個(gè)點(diǎn)，或者測(cè)量多達(dá) 10 個(gè)設(shè)備。 使用多路復(fù)用器卡擴(kuò)展系統(tǒng)容量，或在一臺(tái)設(shè)備上進(jìn)行省時(shí)的測(cè)量。
特點(diǎn)
通過選配的 2000-SCAN 卡，可以測(cè)量多達(dá) 10 個(gè)電壓或 2 線電阻通道或多達(dá) 5 個(gè) 4 線電阻通道。
使用選配的 2001-TCSCAN 多路復(fù)用器卡，通過熱電偶測(cè)量多達(dá) 9 個(gè)溫度通道。 該卡具有內(nèi)部冷接點(diǎn)補(bǔ)償參考傳感器。

以高靈敏度和高精度測(cè)量電纜和連接器電阻
要測(cè)量低電阻，必須使用優(yōu)良技術(shù)來消除熱誤差和測(cè)試引線電阻。 借助 DMM6500，您可以：
以 1μΩ 靈敏度進(jìn)行測(cè)量。
使用 4 線電阻測(cè)量功能來消除測(cè)試引線誤差。
使用偏移補(bǔ)償功能消除熱接觸誤差。

*大化制造測(cè)試流程的吞吐量
通過更快的測(cè)量速度縮短測(cè)試時(shí)間。 在一個(gè)測(cè)試設(shè)置下測(cè)試多達(dá) 10 個(gè)設(shè)備。 使用 DMM6500 的內(nèi)置智能進(jìn)一步減少與 PC 的通信。 DMM6500 可以控制測(cè)試系統(tǒng)中的其他儀器。
特點(diǎn)
對(duì) 60 Hz (50 Hz) 的電源線進(jìn)行短至 0.0005 個(gè)電源線周期或 8.3μs (10 μs) 的測(cè)量。
使用Keithley 的內(nèi)部儀器 Test Script Processor (TSP®) 執(zhí)行測(cè)試并控制其他基于 TSP 或 LAN 的儀器。
使用選配的 10 通道掃描儀卡或 9 通道溫度掃描儀卡在一個(gè)測(cè)試設(shè)置下測(cè)試更多設(shè)備。