CSK-IIA-2試塊測試方法

橫波靈敏度的設(shè)定：將選用已校驗(yàn)好的的斜探頭

探頭置于示意圖10中a位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為**點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中b位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為**點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中c位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中d位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第四點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中e位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第五點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中f位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第六點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中g(shù)位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第七點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中h位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第八點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中i位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第九點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中j位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第十點(diǎn)。

將以上十點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線。
 

縱波靈敏度設(shè)定：將選用已校驗(yàn)好的直探頭

探頭置于示意圖10中k位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為**點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中l(wèi)位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為**點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中m位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中n位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第四點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中o位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第五點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中p位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第六點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中q位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第七點(diǎn)。

探頭置于示意圖10中r位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第八點(diǎn)。

將以上八點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線，此時(shí)的靈敏度即為基準(zhǔn)靈敏度。